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| Registros recuperados : 1 | |
| 1. |  | LLANES-ÁLVAREZ, Y.; PEÑA-BÁRZAGA, I.; ZAMORA-RODRÍGUEZ, V.; BATISTA-LE RIVEREND, L.; LÓPEZ, D.; RIVAS, F.; LÁZARO-MIERES, S.; MEJIAS, K.; GREGORIO-DE TEJEDA, C.; HERNÁNDEZ-RODRÍGUEZ, L. Prevalence of Citrus tristeza virus (CTV) genotype T30 in cuban citrus areas. (SUUU-P-3). [poster presentations]. Session III: Pests and Diseases. In: RIivas, F. (Ed.). IV International Symposium on Citrus Biotechnology. Book of Abstracts. Montevideo (UY): INIA. p. 63. (INIA Serie Técnica; 244)| Biblioteca(s): INIA Las Brujas. |
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| Registros recuperados : 1 | |
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Registro completo
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Biblioteca (s) : |
INIA La Estanzuela. |
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Fecha actual : |
21/02/2014 |
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Actualizado : |
22/02/2014 |
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Autor : |
García, S. ; Heinzen, H. ; Moyna, P. |
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Título : |
Bases químicas de la resistencia de cebada a hongos patógenos |
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Fecha de publicación : |
1992 |
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Fuente / Imprenta : |
ln: Reunión Nacional de Investigadores de Cebada, 3 : 1992 jun 25-26 : Minas ; Mesa Nacional de Entidades de Cebada Cervecera [Memorias]. Montevideo (Uruguay): INIA; LATU; SALUS, 1992. |
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Páginas : |
p10-17 |
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Idioma : |
Español |
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Thesagro : |
CEBADA; HONGOS; ORGANISMOS PATOGENOS; QUIMIOTAXONOMIA; RESISTENCIA A AGENTES DAÑINOS; RESPUESTA DE LA PLANTA; VARIEDADES. |
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Asunto categoría : |
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Marc : |
LEADER 00758naa a2200229 a 4500
001 1044574
005 2014-02-22
008 1992 bl uuuu u00u1 u #d
100 1 $aGARCÍA, S.
245 $aBases químicas de la resistencia de cebada a hongos patógenos
260 $c1992
300 $ap10-17
650 $aCEBADA
650 $aHONGOS
650 $aORGANISMOS PATOGENOS
650 $aQUIMIOTAXONOMIA
650 $aRESISTENCIA A AGENTES DAÑINOS
650 $aRESPUESTA DE LA PLANTA
650 $aVARIEDADES
700 1 $aHEINZEN, H.
700 1 $aMOYNA, P.
773 $tln: Reunión Nacional de Investigadores de Cebada, 3 : 1992 jun 25-26 : Minas ; Mesa Nacional de Entidades de Cebada Cervecera [Memorias]. Montevideo (Uruguay): INIA; LATU; SALUS, 1992.
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Registro original : |
INIA La Estanzuela (LE) |
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Biblioteca
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Identificación
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Origen
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Tipo / Formato
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Clasificación
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Cutter
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Registro
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