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Registro completo
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Biblioteca (s) : |
INIA Tacuarembó; INIA Treinta y Tres. |
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Fecha : |
21/02/2014 |
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Actualizado : |
12/10/2021 |
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Autor : |
PARSCH, L.D.; BECERRA, M. |
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Título : |
Yield risk for Arkansas rice production. |
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Fecha de publicación : |
2000 |
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Fuente / Imprenta : |
ln: Norman, R.J.; Beyrouty, C.A. B.R. Wells Rice research studies 1999. Fayetteville, Arkansas (USA): Arkansas Agricultural Experiment Station, 2000. |
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Páginas : |
p. 486-495 |
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Serie : |
(AAES Research Series ; 476) |
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Idioma : |
Inglés |
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Palabras claves : |
RICE (ORYZA SATIVA L.). |
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Thesagro : |
ARROZ; INVESTIGACION; RENTABILIDAD. |
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Asunto categoría : |
--
F01 Cultivo |
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Marc : |
LEADER 00615naa a2200193 a 4500
001 1020697
005 2021-10-12
008 2000 bl uuuu u00u1 u #d
100 1 $aPARSCH, L.D.
245 $aYield risk for Arkansas rice production.
260 $c2000
300 $ap. 486-495
490 $a(AAES Research Series ; 476)
650 $aARROZ
650 $aINVESTIGACION
650 $aRENTABILIDAD
653 $aRICE (ORYZA SATIVA L.)
700 1 $aBECERRA, M.
773 $tln: Norman, R.J.; Beyrouty, C.A. B.R. Wells Rice research studies 1999. Fayetteville, Arkansas (USA): Arkansas Agricultural Experiment Station, 2000.
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Registro original : |
INIA Tacuarembó (TBO) |
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Biblioteca
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Identificación
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Origen
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Tipo / Formato
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Clasificación
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Cutter
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Registro
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Volumen
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Estado
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| Registros recuperados : 1 | |
| 1. |  | TOLEDO, E.A. DE; PERTILE, S.F.N.; DOS SANTOS, J.S.; BARRETO, J.V.P.; BANCHERO, G.; DOS SANTOS, M.D.; VENANCIO, R.L.; RIBEIRO, E.L.A.; ZAMBOTI, M.; ZUNDT, M.; REGO, F.C. DE A Does compaction degree and particle size influence bromatological composition and mycotoxin levels in corn silage?. Scientia plena, vol 16, number 7, 2020. OPEN ACCESS. DOI: https://doi.org/10.14808/sci.plena.2020.070207| Tipo: Artículos en Revistas Indexadas Internacionales | Circulación / Nivel : Internacional - -- |
| Biblioteca(s): INIA La Estanzuela. |
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| Registros recuperados : 1 | |
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