Fecha/hora: 20/05/2024 17:48:23

Biblioteca(s): | INIA La Estanzuela.
Tipo de la producción científica: | Trabajos en Congresos/Conferencias
Fecha corriente: | 16/02/2022
Fecha de la última actualización: | 16/02/2022
Autoria: | GASO, D.; BERGER, A.; LAMMERT, K.; ALLARD, W.
Afiliación: | DEBORAH VIVIANA GASO MELGAR, INIA (Instituto Nacional de Investigación Agropecuaria), Uruguay./ Laboratory of Geo-Information Science, Wageningen University, Wageningen.; ANDRES GUSTAVO BERGER RICCA, INIA (Instituto Nacional de Investigación Agropecuaria), Uruguay; KOOISTRA LAMMERT, Laboratory of Geo-Information Science, Wageningen University, Wageningen, Wageningen, the Netherlands.; WIT ALLARD, Wageningen Environmental Research, Wageningen University, Wageningen, Wageningen, the Netherlands.
Título: | Assimilating leaf area index into a simple crop model to predict soybean yield and maximum root depth at field scale.
Año de publicación: | 2020
Fuente/Imprenta: | In: ICROPM2020: Second International Crop Modelling Symposium , Feb 2020, Montpellier, France. ffhal-02950258f.
Idioma: | Inglés
Palabras-Clave: | SOYBEAN; Yield forecasting.
Thesagro: | RENDIMIENTO DE CULTIVOS; SOJA.
Categoría del tema: | F01 Cultivo
URL: | http://www.ainfo.inia.uy/digital/bitstream/item/16270/1/Gaso-S1-Poster.pdf
Registro original: | INIA La Estanzuela (LE)
Ejemplares: | LE - (103483-1) - PXI - PC - DD - ICROPM2020/Gaso -  -  - DIS